SD2000系列晶振測(cè)試系統(tǒng)
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SD2000系列晶振測(cè)試系統(tǒng)
詳細(xì)說(shuō)明
主要特點(diǎn)
由微機(jī)、射頻開(kāi)關(guān)和高分辨率計(jì)數(shù)器組成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
可用于晶振老化測(cè)試和溫度測(cè)試，自動(dòng)完成老化漂移、穩(wěn)定度、準(zhǔn)確度、日波動(dòng)等參數(shù)的測(cè)量
通過(guò)射頻開(kāi)關(guān)的組合，可組成64-N路測(cè)試矩陣
自動(dòng)記錄儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)，自動(dòng)形成測(cè)試曲線
主要技術(shù)指標(biāo)
頻率范圍：DC～100MHz
隔離度：120dB(5MHz); 90dB (100MHz)
上一個(gè)：
無(wú)
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